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CCS環(huán)形光源 LDR2-74SW2-LA 從有角度發(fā)光部以低角度照射直射光 提取凹凸的傷痕和刻印 通過從低角度向中心部照射直射光，可以進行強調(diào)工件特異點的拍攝。 以陡峭的傾斜角從低角度照射 通過在傾斜較大的柔性基板上安裝LED，可以從較低的位置向中心部聚光照射。 用途:金屬表面的刻印?傷痕?臟污檢查/各種邊緣提取/藥品的異物混入檢查/玻璃端面的傷痕檢查/0環(huán)的外觀檢查等
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